System rentgenowski SEC X-EYE 5100F

System rentgenowski SEC X-EYE 5100F

System rentgenowski SEC X-EYE 5100F to zaawansowane urządzenie stworzone do nieniszczącej inspekcji elementów elektronicznych, półprzewodników i struktur SMT. Zaprojektowany z myślą o kontroli jakości, analizie usterek oraz precyzyjnych badaniach wewnętrznych struktur, oferuje doskonałą wydajność i jakość obrazu. Sercem systemu jest zamknięta lampa rentgenowska typu micro-focus o napięciu 100 kV i ogniskowej 5 µm, współpracująca z płaskim detektorem CMOS o wysokiej rozdzielczości. Takie połączenie zapewnia wyjątkowo ostry i szczegółowy obraz nawet przy dużych powiększeniach, co czyni X-EYE 5100F idealnym narzędziem do identyfikacji mikrowad, pustek w lutach, uszkodzeń układów scalonych i nieciągłości w strukturach materiałowych.

Zaawansowana konstrukcja i wieloosiowy manipulator

System został wyposażony w wieloosiowy manipulator obejmujący osie X, Y, Z oraz oś obrotu Tθ, co umożliwia precyzyjne pozycjonowanie elementów pod dowolnym kątem. Duży stół roboczy o wymiarach 340 × 460 mm pozwala na wygodne umieszczanie i manewrowanie komponentami różnej wielkości, a szeroki zakres ruchu w osiach zwiększa możliwości inspekcji nawet w przypadku nieregularnych kształtów lub elementów umieszczonych w trudnodostępnych miejscach. Manipulator może być sterowany zarówno za pomocą pulpitu z joystickami typu jog-sticks, jak i myszy, co zapewnia pełną elastyczność obsługi. Dodatkowo system generuje próżnię na poziomie 75%, co odpowiada 570 mmHg i 22,4 inHg, co stabilizuje proces inspekcji i umożliwia szczegółowe obrazowanie elementów zamkniętych.

Maksymalne powiększenie do 130× umożliwia ocenę zarówno szerokich struktur, jak i najbardziej drobnych detali. Zewnętrzne promieniowanie na poziomie <1 µSv/h pozwala na bezpieczną pracę nawet podczas długotrwałych sesji inspekcyjnych.

Oprogramowanie operacyjne i funkcje automatyzacji

Oprogramowanie operacyjne X-EYE zapewnia komfortową pracę dzięki intuicyjnemu interfejsowi oraz bogatemu zestawowi narzędzi pomiarowych. System obsługuje funkcję automatycznego uczenia CNC, automatyczną inspekcję BGA z precyzyjnym określaniem poziomu voidingu, narzędzia analizy obrazu, mapowanie wyników, nanoszenie komentarzy oraz pracę w czasie rzeczywistym. Użytkownik może zapisywać ustawienia, zarządzać uprawnieniami, korzystać z automatycznego histogramu oraz funkcji filtrujących eliminujących zniekształcenia obrazu.

Całość dopełnia przyjazne dla użytkownika środowisko pracy, które upraszcza obsługę, zapewnia łatwą konserwację oraz pozwala rozbudować system o dodatkowe funkcje w zależności od potrzeb i budżetu.

Specyfikacja techniczna systemu SEC X-EYE 5100F

Parametr Wartość Typ lampy Zamknięta lampa micro-focus 100 kV, ogniskowa 5 µm Natężenie Maks. 200 µA Próżnia robocza 75% / 570 mmHg / 22,4 inHg Detektor Płaski detektor CMOS Powiększenie Maks. 130× Manipulator 4-osiowy: X, Y, Z, Tθ Sterowanie Jog-sticks lub mysz Zakres ruchu Oś X: 420 mm, oś Y: 300 mm, odchylenie T: ±45° Stół roboczy 340 × 460 mm Promieniowanie zewnętrzne <1 µSv/h Analiza W czasie rzeczywistym Funkcje operacyjne Zapamiętywanie parametrów, filtrowanie obrazu, histogram, komentarze, automatyczne uczenie Automatyczna inspekcja BGA Tak, z określaniem poziomu voidingu Procesor Intel® Xeon E3-1225 v3 @ 3.20 GHz RAM 8 GB Dyski 2 × HDD 500 GB Monitor 24″ LCD System operacyjny Microsoft Windows 7 Zasilanie 220 VAC 50/60 Hz Wymiary urządzenia 1300 × 1000 × 1500 mm Zastosowania systemu SEC X-EYE 5100F

System znajduje zastosowanie w analizie wewnętrznych struktur komponentów elektronicznych, kontroli montażu SMT, badaniu pustek w lutach BGA, diagnostyce uszkodzeń przewlekanych elementów, ocenie jakości układów scalonych i struktury półprzewodników, analizie komponentów plastikowych i modułów zamkniętych, kontroli połączeń drutowych oraz ocenie elementów wielowarstwowych. Dzięki wysokiej rozdzielczości obrazu i funkcjom automatyzacji sprawdza się zarówno w działach produkcyjnych, jak i serwisowych oraz w środowiskach badawczo-rozwojowych, gdzie wymagana jest precyzja i pełna wiarygodność wyników.

System rentgenowski SEC X-EYE 5100F łączy wysoką moc lampy micro-focus, zaawansowany detektor CMOS i wieloosiowy manipulator z wszechstronnym oprogramowaniem oferującym automatyczne funkcje analityczne, co tworzy kompletną platformę do nieniszczącej inspekcji komponentów elektronicznych i półprzewodnikowych. Dzięki możliwości pracy w czasie rzeczywistym, szczegółowej analizie voidingu i łatwej obsłudze system zapewnia pełną kontrolę nad procesem diagnostyki i jakości, pozwalając wykrywać pustki, nieciągłości i mikrowady w najbardziej wymagających zastosowaniach technologicznych.

* Filmy

*

* Dokumenty

* Katalog SEC

Pobierz