elecena.pl

Podstawka testowa ZIF 40 pin

Botland

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 40 pinów. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 15,24 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Elecena nie prowadzi sprzedaży elementów elektronicznych, ani w niej nie pośredniczy.

Produkt pochodzi z oferty sklepu