Tester układów scalonych IC

Tester układów scalonych IC

Wielofunkcyjny tester układów scalonych IC wyposażony jest w wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD, podstawkę zaciskową ZIF-24, oraz klawiaturę sterującą. Zasilany jest przy pomocy dwóch baterii AA 1,5V. Tester jest całkowicie przenośny i umożliwia testowanie/sprawdzanie/wykrywanie/: cyfrowych układów logicznych z serii TTL/CMOS, układów interfejsowych, wzmacniaczy operacyjnych, tranzystorów bipolarnych pnp npn, tranzystorów unipolarnych N- MOS P -MOS, diod Zenera do 50V, transoptorów (optoizolatorów). Sprawdzanie poprawności działania układów scalonych sprowadza się do automatycznego wykrycia typu układu, tranzystorów do wykrycia układu wyprowadzeń, diod Zenera na zbadaniu spadku napięcia.

Wielofunkcyjny tester układów scalonych jest profesjonalnym instrumentem przeznaczonym dla inżynierów, personelu serwisowego, elektroników. Różne tryby testowania - można wybrać : tryb 5V lub 3,3V, tryb AUTO, 74HC, 74LS, CD4000, HEF400, 4500, wzmacniacze operacyjne, układy interfejsowe, transoptory, diody zenera, tranzystory.

dane techniczne:

* tester układów scalonych IC

* wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD

* klawiatura sterująca

* podstawka zatrzaskowa ZIF-24 pin

* zasilanie: 2x bateria AA 1,5V (brak w zestawie)

* funkcja automatycznego wykrywania włożonego układu scalonego

* testowanie diod Zenera do 50V

prezentacja i przykładowe pomiary:

opis menu testera IC:

funkcja:

opis funkcji:

Search

Auto mode

automatyczne wyszukiwanie typu

(jeśli to możliwe)

5.0v mode

3.3v mode

74HC

testowanie układów z serii 74HC (konieczność ręcznego wybrania modelu)

74LS

testowanie układów z serii 74LS (konieczność ręcznego wybrania modelu)

CD40

testowanie układów z serii CD4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu)

HEF40

testowanie układów z serii HEF4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu)

45/145

testowanie układów z serii 45 series 145 series logic device test (konieczność ręcznego wybrania modelu)

OTHER

testowanie układów interfejsowych: MAX232, MAX485, 75175, 75176, 75c11.. (konieczność ręcznego wybrania modelu)

AMP

testowanie wzmacniaczy operacyjnych, komparatorów: LM324, LM358, LM339, LM393, LM2902 ... (konieczność ręcznego wprowadzenia modelu).

TR

identyfikacja tranzystora: typ tranzystora, oraz oznaczenie wyprowadzeń.

Identyfikowane tranzystory NPN, PNP, N-MOS, P -MOS, tyrystory, triak

ZD

testowanie diod Zenera do 50V, rozdzielczość pomiaru 0,01V

LIGHT

testowanie transoptorów 4 pinowy

OFF

wyłączenie

wyświetlane komunikaty testera IC:

Komunikat:

Opis:

OK

test OK normalny

Batter

rozładowana bateria - sprawdź baterię

Not found

nie można znaleść / rozpoznać

Fault

uszkodzony układ lub wybrano zły typ

Open

otwarty obwód

Not supported

nie obsługiwany

NPN

typ tranzystora NPN

PNP

typ tranzystora PNP

N-MOS

typ tranzystora FET

P-MOS

typ tranzystora FET

1-SCR

Way SCR

2-SCR

Triac

2D

Common cathode and common anode rectifier

A.k.b.c.e.g.

specyfikacja kolejności wyprowadzeń

Out of range

napięcie Zenera poza zakresem pomiarowym

ERR1.2

auto test zakończony niepowodzeniem

zdjęcia: