Płytka ewaluacyjna onsemi Bezpiecznik elektroniczny Płytka ewaluacyjna Dyski twarde

ON Semiconductor płytka ewaluacyjna do eFuse NIS5020 w środowisku rozwoju warstw i oferuje programowany limit prądu częściowego, programowaną prędkość obrotu, I zabezpieczenia termicznego, płytka ewaluacyjna zapewnia obciążenie zwarciowe na płycie w celu przetestowania funkcji ochrony przed zwarciem eFuse, ta płytka ewaluacyjna musi być używana z Stratą do sterowania eFuse i monitorowania telemetrii, takich jak napięcie wejściowe/wyjściowe, prąd wejściowy/wyjściowy i temperatura.