Aplikacja DXF OVERLAY

Informacje ogólne

* Oprogramowanie do mikroskopów TAGARNO TREND oraz PRESTIGE * Aplikacja DXF Overlay umożliwia kontrolę próbki przy użyciu pliku DXF jako obrazu na monitorze. Poprzez proste dodanie pliku i użycie go jako nakładki na próbkę, można łatwo zobaczyć na ekranie jednocześnie próbkę i plik DXF w czasie rzeczywistym * Jedną z największych zalet aplikacji jest pasek wyszukiwania, który może być używany do wyszukiwania określonych części w próbce. Dzięki temu użytkownik może łatwo znaleźć komponent, który może być wadliwy lub wymaga dokładniejszej kontroli.

* Filmy

*